Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Modifikace hrotu pro zobrazování nanostruktur v AFM s vysokým rozlišením
Faitová, Hana ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Vorokhta, Mykhailo (oponent)
Mikroskopie atomárních sil (AFM) je mladá a široce používaná metoda zob- razování povrchu, nanostruktur, biologických a dalších citlivých objektů pomocí rastrujícího hrotu na ohebném raménku. Při provozu na vzduchu dosahuje rozli- šení několika nanometrů, toto rozlišení je závislé zejména na používaném hrotu. Předložená práce se zabývá modifikací použitých hrotů pomocí uhlíkových nano- trubiček (CNT) v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) za využití tech- niky fokusovaného iontového svazku (FIB) a soustavy vstřikování plynných pre- kurzorů (GIS). Je zde prezentováno několik postupů přípravy vzorků CNT a jejich připevnění na hrot pro AFM. Funkčnost hrotů byla ověřována v AFM za pomoci kalibračních vzorků složených z definovaných nanostruktur. 1

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.